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其它長(zhǎng)度計(jì)量器具

平面平晶
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：平面平晶，是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
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平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。 
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的技術(shù)參數(shù)（備注：特殊規(guī)格可根據(jù)客戶要求定做）


平面直徑d(mm) 基本參數(shù)
1級(jí)
d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi)
30
45
60 		0.03 ----
80
100
150 		0.05 0.03
200
250
300 		0.08
0.1
0.15 		0.05
0.05
0.09


















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